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首頁-公司産品-台階儀微細形狀測定機

台階儀微細形狀測定機

ET200

· 适用于二次元表面納米等級段差台階測定、粗糙度測定。


· 高精度.高分解能,搭配一體花崗岩結構,安定的測量過程及微小的測定力可對應軟質樣品表面。


· 采用直動式檢出器,重現性高。

産品特點

最大試片尺寸 ø200mm×高度50mm
重現性 1σ ≤ 1nm
測定範圍 Z:600µm X:100mm
分解能 Z:0.1nm X:0.1µm
測定力 10µN~500µN (1mg-50mg)

要實現精準的精密測量

獲取報價